Атомно-силовые микроскопы -- Спин Аналитика

Bruker Dimension Icon

Атомно-силовой микроскоп с разрешением < 1 Å по Z и < 1 нм по XY. Сканер 90 x 90 x 10 мкм. Режимы: контактный, полуконтактный (TappingMode), PeakForce QNM, ScanAsyst. Автоматическая оптимизация параметров. Закрытый сканер с низким шумом.

США

NT-MDT Spectrum Instruments

NT-MDT NTEGRA

Модульная платформа сканирующей зондовой микроскопии: АСМ, СТМ, СБОМ, комбинация с конфокальным/рамановским микроскопом. Сканеры до 100 x 100 x 10 мкм. Открытая архитектура для пользовательских экспериментов. ПО Nova/NT-MDT Image Analysis. Российское производство (Зеленоград).

Россия

Oxford Instruments

Oxford Instruments Asylum Cypher

Компактный АСМ с ультранизким шумом и технологией blueDrive (фототермический привод кантилевера). Сканер 30 x 30 x 5 мкм. Разрешение по Z < 0,08 нм. Режимы: AC, контактный, PFM, KPFM, MFM. Жидкостная ячейка для биологии. ПО AR/Igor Pro.

Великобритания/США

Park Systems

Park Systems NX20

АСМ с раздельными XY и Z сканерами (Crosstalk Elimination), True Non-Contact Mode и автоматизацией SmartScan. Сканер 100 x 100 x 15 мкм. Разрешение по Z < 0,05 нм. Встроенная оптика с 1000x увеличением. ПО SmartScan/XEI.

Южная Корея