JEOL

JEOL JSM-IT800

Страна: Япония

Автоэмиссионный SEM с пушкой In-lens Schottky Plus. Суб-нанометровое разрешение. Ускоряющее напряжение 0,01-30 кВ. Ток до 500 нА. 5 вариантов объективных линз (HL, SHL, SHLs, i, is). Увеличение до 2 000 000x.

ООО «Спин Аналитика» не осуществляет продажу оборудования. Платформа является информационно-навигационным сервисом.

Ключевые характеристики

Тип Автоэмиссионный SEM (In-lens Schottky Plus FEG)
Детекторы SE, BSE, in-lens SE/BSE, STEM (опции)
Разрешение Суб-нанометровое (зависит от объектива)
Увеличение до 2 000 000x
Форм-фактор Напольный
Макс. ток пучка 500 нА
Объективные линзы 5 вариантов (HL, SHL, SHLs, i, is)
Ускоряющее напряжение 0,01-30 кВ
Программное обеспечение SEM Center, Smile View

Описание

Назначение

JEOL JSM-IT800 - автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп с пушкой In-lens Schottky Plus для высокоразрешающей визуализации и аналитики.

Место в линейке

JSM-IT800 - верхняя модель исследовательских SEM JEOL. Младшая JSM-IT510 - вольфрамовый SEM для рутинных задач. Для ультравысокого разрешения: JSM-F100 (CFEG, < 0,5 нм). TEM: JEM-F200 (200 кВ).

JEOL (Токио, Япония) производит электронные микроскопы с 1949 года.

Принцип работы

In-lens Schottky Plus FEG формирует стабильный пучок с высоким током (до 500 нА). 5 вариантов объективных линз оптимизируют прибор под задачу: HL (гибридная, универсальная), SHL (супергибридная, макс. разрешение), i (semi-in-lens, полупроводники).

Позиция на рынке

JEOL конкурирует с Thermo (Apreo), Zeiss (GeminiSEM) и Hitachi (SU7000). Уникальное преимущество JEOL - 5 вариантов объективных линз под разные задачи.

Ключевые технологии

In-lens Schottky Plus FEG

Пушка расположена внутри линзы (in-lens). Высокая яркость и стабильность. Ток до 500 нА - один из самых высоких среди FE-SEM. Высокий ток критичен для EDS/EBSD-анализа.

5 вариантов объективных линз

HL (гибридная): универсальная. SHL (супергибридная): максимальное разрешение. SHLs: SHL + широкий зазор для крупных образцов. i (semi-in-lens): для полупроводников (иммерсионная). is: i + широкий зазор.

Ускоряющее напряжение 0,01-30 кВ

Работает при 10 В (0,01 кВ) - одно из самых низких. Ультранизкое напряжение визуализирует поверхность без повреждения и заряжания.

Для кого подходит

  • Материаловедение - наноструктура, фрактография, коррозия
  • Полупроводники - инспекция, метрология, дефекты (объективы i/is)
  • Геология - минералогия, EBSD, автоматическая минералогия
  • Биология - низковольтная визуализация поверхности
  • Нанотехнологии - наночастицы, нанотрубки, графен

Особенности эксплуатации

Программное обеспечение

SEM Center - управление. Smile View - аналитика. Автоматизация: IT-InTouchScope для удалённого управления.

Требования к установке

  • Форм-фактор: напольный
  • Виброизоляция и электромагнитная защита
  • Площадь: ~6 м²

Ограничения

  • Напольный, требует специального помещения
  • Стоимость 5-луночной конфигурации существенна
  • Модель снята с производства, преемник JSM-IT810

Области применения

Высокоразрешающая визуализация наноструктур Полупроводниковая метрология (объективы i/is) Минералогия и EBSD-картирование Визуализация при ультранизком напряжении (от 10 В) EDS/EBSD при высоком токе (до 500 нА)

Сравнение с аналогами

Thermo Apreo 2 Thermo Fisher Scientific

Apreo 2: Trinity Detection, ChemiSEM, Stage Bias -4 кВ. IT800: In-lens Schottky Plus (500 нА), 5 объективов, 0,01 кВ. Для встроенного EDS - Apreo, для гибкости объективов и высокого тока - JEOL.

Zeiss GeminiSEM 560 Zeiss

GeminiSEM 560: Gemini-колонна, NanoVP. По разрешению сопоставим. Zeiss - уникальный NanoVP для непроводящих образцов. JEOL - 5 объективов и 500 нА.

Частые вопросы

Зачем 5 вариантов объективных линз?

Каждая линза оптимизирована под свою задачу. HL - универсальная (90% задач). SHL - максимальное разрешение (наноматериалы). i - для полупроводников (иммерсионная, плоские образцы). Лаборатория выбирает конфигурацию при заказе.

Дополнительные материалы

Коды для госзакупок

Возможные коды ОКПД2 для закупки данного оборудования по 44-ФЗ и 223-ФЗ. Выбор кода зависит от назначения и контекста закупки.

26.51.53.190
Приборы и аппаратура для физического или химического анализа прочие
Для электронных микроскопов
26.51.66.190
Приборы для измерения или контроля прочие
Универсальный
28.99.39.190
Оборудование специального назначения прочее
Для исследовательских лабораторий
Почему мы не указываем коды КТРУ?

Коды КТРУ регулярно обновляются Минфином и зависят от конкретных характеристик закупаемого оборудования (автоматическое/полуавтоматическое, с охлаждением/без и т.д.). Актуальные коды КТРУ доступны только в Единой информационной системе закупок.

Отказ от ответственности

Информация о кодах ОКПД2 носит справочный характер. Коды приведены в качестве примера возможных вариантов классификации данного оборудования. Выбор кода, его соответствие нормативно-правовым актам и целесообразность применения определяются заказчиком самостоятельно. ООО «Спин Аналитика» не несёт ответственности за некорректное применение указанных кодов при осуществлении закупочных процедур.

Найти актуальные коды КТРУ в ЕИС (предзаполненный поиск)