Электронные микроскопы (SEM, TEM) -- Спин Аналитика

Hitachi SU7000

Автоэмиссионный SEM с технологией автоматической навигации и высоким разрешением. Schottky FEG, разрешение 0,8 нм (15 кВ). Ускоряющее напряжение 0,1-30 кВ. VariPressure для непроводящих образцов. Автоматический поиск и анализ зон интереса.

Япония

JEOL

JEOL JEM-F200

Просвечивающий электронный микроскоп (ТЕМ) 200 кВ с CFEG (cold field emission gun). Разрешение точка-точка 0,10 нм, решёточное 0,08 нм. STEM-HAADF для Z-контраста. Держатели для in-situ экспериментов. ПО TEMCenter.

Япония

JEOL

JEOL JSM-IT800

Автоэмиссионный SEM с пушкой In-lens Schottky Plus. Суб-нанометровое разрешение. Ускоряющее напряжение 0,01-30 кВ. Ток до 500 нА. 5 вариантов объективных линз (HL, SHL, SHLs, i, is). Увеличение до 2 000 000x.

Япония

Thermo Fisher Scientific

Thermo Scientific Apreo 2 SEM

Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп с разрешением 0,8 нм (15 кВ) и 1,0 нм (1 кВ). Система детекции Trinity (T1+T2+T3): одновременный сбор топографии, состава и поверхности. Напряжение 0,02-30 кВ. Stage bias -4000...+600 В. ПО Maps/Auto Slice&View.

США/Чехия

Thermo Fisher Scientific

Thermo Scientific Glacios 2

Крио-просвечивающий электронный микроскоп 200 кВ для структурной биологии. XFEG (high-brightness), Falcon 4i детектор. Одночастичный анализ (SPA), крио-электронная томография (cryo-ET). Автоматизация через Athena/EPU. Разрешение < 2 Å (SPA).

Финляндия

Zeiss

Zeiss GeminiSEM 560

Автоэмиссионный SEM с колонной Gemini 2 и детектором Inlens SE/BSE. Разрешение 0,7 нм (15 кВ), 1,0 нм (1 кВ). Технология NanoVP: нано-разрешение при переменном давлении. Ускоряющее напряжение 0,02-30 кВ. ПО SmartSEM.

Германия